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반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험방법 — 제10부: 기계적 충격
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 충격 시험은 거친 취급, 수송 또는 공정 과정에서 발 생되는 갑작스런 힘의 작용이나 작동의 급격한 변화 의 결과로 비교적 심한 충격을 받을 수 있는 전자 기 기에 사용되는 부품의 적합성을 측정하는 데 목적이 있다. 이러한 종류의 충격은, 특히 충격 펄스가 반복 적이라면 동작 특성을 방해할 수 있다. 이 시험은 파 괴적이다. 통상적으로 공동형 패키지에 적용한다. 일반적으로 기계적 충격 시험은 IEC 60068－2－27에 따르지만, 반도체의 특정 요구 조건 때문에 이 규 격 의 세부 항목들이 적용된다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 10: Mechanical shock | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 60749-10:2002(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2020-0142호) | ||||||||
| 고시사유 | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 7 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 60749-10  |
반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험방법 — 제10부: 기계적 충격 | 2020-07-23 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
| KS C IEC 60749-10(2015 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제10부：기계적 충격 | 2015-02-25 | 확인(구판) | 최종 정비후 5년이 도래한 표준으로 확인 | |
| KS C IEC 60749-10(2009 확인) |
반도체소자 - 기계 및 기후적 환경 시험방법 - 제10부 : 기계적 충격 | 2009-12-24 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60749-10 |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제10부：기계적 충격 | 2004-11-29 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | KS C IEC 60068-2-27 | 환경 시험－제2-27부：시험－시험 Ea와 지침：충격 시험 | 2022-07-29(확인) | 한글 | 34,700원 | ||
인용표준 2종 이상 선택 시 20% 할인 |
총 0종 선택 |
0원 0원 |
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