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반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험방법 — 제12부: 진동, 가변 주파수
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 규격은 규정된 주파수 범위 내에서 가변 주파수 진동이 내부 구조적인 요소들에 대해 미치는 영향을 알아보기 위한 시험을 기술한다. 이 시험은 파괴적이 다. 이 시험은 통상적으로 공동형 (cavity- type) 패 키지에 적용 가능하다. 일반적으로 가변 주파수 진동 시험은 IEC 60068－2－ 6에 따르지만 반도체의 특정 요구 조건 때문에 이 규 격의 세부 항목들이 적용된다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 12: Vibration, variable frequency | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 60749-12:2017(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2020-0142호) | ||||||||
| 고시사유 | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 9 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 60749-12  |
반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험방법 — 제12부: 진동, 가변 주파수 | 2020-07-23 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
| KS C IEC 60749-12(2015 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제12부：진동, 가변 주파수 | 2015-02-25 | 확인(구판) | 최종 정비후 5년이 도래한 표준으로 확인 | |
| KS C IEC 60749-12(2009 확인) |
반도체소자 - 기계 및 기후적 환경 시험방법 - 제12부 : 진동, 가변 주파수 | 2009-12-24 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60749-12 |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제12부：진동, 가변 주파수 | 2004-11-29 | 제정(구판) | ||
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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