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반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험방법 — 제6부: 고온에서의 저장
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
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| 적용 범위 | 이 규격은 전기적 스트레스를 적용하지 않고 고온에 서의 저장이 모든 반도체 전기 소자에 미치는 영향 을 측정하기 위함이다. 이 시험은 비파괴 시험으로 간주되지만 소자의 품질 검사를 위해 사용 되는 것 이 더 바람직하다. 출하 소자의 경우, 높은 가속 스 트레스 시험에 대한 영향이 평가될 필요가 있다. 일반적으로 고온 저장 시험은 KS C IEC 60068－2－28 을 따르지만, 반도체의 특정 요구 조건 때문에 이 규 격의 세부 항목들이 적용된다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 6: Storage at high temperature | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 60749-6:2017(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2020-0142호) | ||||||||
| 고시사유 | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 9 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 60749-6  |
반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험방법 — 제6부: 고온에서의 저장 | 2020-07-23 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
| KS C IEC 60749-6(2015 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제6부：고온에서의 저장 | 2015-02-25 | 확인(구판) | 최종 정비후 5년이 도래한 표준으로 확인 | |
| KS C IEC 60749-6(2009 확인) |
반도체소자 - 기계 및 기후적 환경 시험방법 - 제6부 : 고온에서의 저장 | 2009-12-24 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60749-6 |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제6부：고온에서의 저장 | 2004-11-29 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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