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반도체 소자 — 기계 및 기후적 시험방법 — 제3부: 외관 검사
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 규격은 반도체 소자가 재료, 설계, 구조, 표시 및 마무리 작업이 적용 가능한 구매 문서와 일치하는 지 여부를 확인하는 데 목적이 있다. 외부 육안 검사 는 비파괴적 시험이며, 모든 패키지 형태에 적용이 가능하다. 이 시험은 인증, 공정 모니터 또는 로트 의 검수 혹은 모두에 유용하다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 3: External visual examination | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 60749-3:2017(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2019-0588호) | ||||||||
| 고시사유 | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 11 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 60749-3  |
반도체 소자 — 기계 및 기후적 시험방법 — 제3부: 외관 검사 | 2021-12-29 | 개정(표준) | 민원신청에 의한 개정 | |
| KS C IEC 60749-3 |
반도체 소자 — 기계 및 기후적 시험방법 — 제3부: 외관 검사 | 2019-12-31 | 개정(구판) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
| KS C IEC 60749-3(2012 확인) |
반도체소자 - 기계 및 기후적 환경 시험방법 - 제3부: 외관 검사 | 2012-12-31 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60749-3(2007 확인) |
반도체소자 - 기계 및 기후적 환경 시험방법 - 제3부: 외관 검사 | 2007-08-31 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60749-3 |
개별 반도체 소자－기계 및 기후적 시험 방법－제3부：외관 검사 | 2002-12-31 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | KS C IEC 61340-5-1 | 정전기학 — 제5-1부: 정전기 현상으로부터 전자 장치 보호 — 일반 요구사항 | 2023-02-20(개정) | 한글 | 25,000원 | ||
인용표준 2종 이상 선택 시 20% 할인 |
총 0종 선택 |
0원 0원 |
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KS C IEC 60749-7 - 반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험 방법 — 제7부: 내부 수분 함량 측정 및 그 이외의 잔류 기체분석 상세보기
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