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Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
| 분야 | TC 47 : Semiconductor devices |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 63287-2:2023 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the concept of mission profile, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications. |
| 국제분류(ICS)코드 | 31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
| 페이지수 | 30 |
| Edition | 1.0 |
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 63287-2:2023 | Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile | 2023-03-29 | 표준 |
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