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전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제5부: AAS, AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머와 전기전자 부품에서 카드뮴과 납 및 크로뮴의 분석과 금속에서 카드뮴과 납의 분석
| 분야 | 전기전자(C) > 전기전자일반 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 표준은 AAS, AFS, ICP-OES, ICP-MS를 사용하여 폴리머, 금속 및 전기전자 부품 내 납과 카드뮴 및 크로뮴을 시험하는 방법에 대해 설명한다.이 표준은 전기전자 제품에서 카드뮴(Cd), 납(Pb), 크로뮴(Cr)의 정량에 대해 규정한다. 이 표준은 폴리머/폴리머 가공품, 금속과 합금 및 전기전자 부품의 세 종류 매질에 적용한다.이 표준은 측정 수행될 대상물을 시료로 규정한다. 시료의 내용, 시료를 얻는 방법은 시험을 수행하는 구성 요소에 의해 정의된다. 규제물질의 함량 측정을 위한 최종 전기전자 제품에서 대표성을 갖는 시료를 채취하기 위한 가 지침은 KS C IEC 62321－2에서 찾을 수 있다. 시료의 선택 및/정량은 시험 결과의 해석에 영향을 미칠 수 있다는 점에 유의한다.이 표준은 원자 흡수 분광 광도법(AAS)과, 원자 형광 분광 광도법(AFS), 유도 결합 플라스마 방출 분광법(ICP-OES) 또는 유도 결합 플라스마 질량 분석법(ICP-MS)의 4가지 시험방법의 사용에 대하여 기술하고, 전문가가 선정한 가장 적절한 방법으로 분석하기 위한 시료 전처리 방법을 기술한다.폴리머와 전기전자 제품 중의 6가 크로뮴 분석은 어렵기 때문에 이 표준은 AFS에 의한 크로뮴 분석 방법은 제외하고, 폴리머와 전기전자 제품 중의 크로뮴 스크리닝 방법을 도입했다. 크로뮴 분석은 재료 내 6가 크로뮴의 존재 여부에 대한 정보를 제공한다. 그러나 이들 원소 분석 방법들은 6가 크로뮴을 선택적으로 검출할 수 없으며, 총 크로뮴의 함량만을 분석할 수 있을 뿐이다. 총 크로뮴의 분석 결과가 6가 크로뮴의 규제치를 초과하는 경우에는 6가 크로뮴에 대한 시험을 반드시 수행해야만 한다.이 표준에서 설명하는 시험 조작들은 Pb와 Cd 및 Cr의 다음과 같은 농도 범위에 대한 가장 높은 수준의 정확도와 정밀도를 제공하는 데 의미가 있다. ICP-OES와 AAS의 경우에는 Pb, Cd, Cr의 농도범위가 10 mg/kg이고, ICP-MS의 경우에는 Pb와 Cd의 농도범위가 0.1 mg/kg이며, AFS의 경우에는 Pb의 농도범위는 10 mg/kg이고, Cd의 농도범위는 1.5 mg/kg이다. 이 방법들은 더 높은 농도에서도 적용 가능하다.이 표준은 안정성 때문에 불소계 폴리머를 포함하는 재료에 적용되지 않는다. 분석 절차에서 황산을 포함하는 경우, Pb가 손실될 위험이 있으므로 낮은 값이 얻어질 수 있다. 또한 황산과 플루오린화수소산은 Cd의 환원을 방해하므로 AFS에 의한 Cd 정량에 적합하지 않다.시료의 용액화 처리 단계에서 제한과 위험성이 발생된다. 예를 들면, 분석대상원소 또는 다른 원소들의 침전이 발생될 수 있다. 그런 경우에는 침전물을 따로 확인하거나 다른 방법으로 용해시킨 다음 시험 시료용액에 합친다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Determination of certain substances in electrotechnical products — Part 5: Cadmium, lead and chromium in polymers and electronics Part 5: Cadmium, lead and chromium in polymers and electronics | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
13.020 : 환경보호 일반 43.040.10 : 전기장비 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 62321－5:2013(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2019-0477호) | ||||||||
| 고시사유 | 5년도래 확인표준 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 36 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
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KS C IEC 62321-5(2024 확인)  |
전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제5부: AAS, AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머와 전기전자 부품에서 카드뮴과 납 및 크로뮴의 분석과 금속에서 카드뮴과 납의 분석 | 2024-05-29 | 확인(표준) | 5년도래 확인 | |
| KS C IEC 62321-5(2019 확인) |
전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제5부: AAS, AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머와 전기전자 부품에서 카드뮴과 납 및 크로뮴의 분석과 금속에서 카드뮴과 납의 분석 | 2019-12-16 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 62321-5 |
전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제5부: AAS, AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머와 전기전자 부품에서 카드뮴과 납 및 크로뮴의 분석과 금속에서 카드뮴과 납의 분석 | 2014-12-24 | 제정(구판) | IEC/TC111 분야 국제표준 제정에 따른 부합화 | |
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | KS C IEC 62321－1 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제1부: 서론 및 개요 | 2024-05-29(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 2 | KS C IEC 62321-2 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제2부: 분해, 분리 및 기계적 시료 준비 | 2019-12-16(확인) | 한글 | 30,400원 | ||
| 3 | KS C IEC 62321－3-1 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 | 2024-05-29(확인) | 한글 | 34,600원 | ||
| 4 | KS I ISO 5961 | 수질 — 원자 흡광 분광법에 의한 카드뮴의 측정 | 2021-12-23(개정) | 한글 | 18,000원 | ||
| 5 | KS M ISO 3696 | 분석 실험용 물－규격 및 분석 방법 | 2020-12-30(확인) | 한글 | 12,800원 | ||
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