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분야 | 전기전자(C) > 전기전자일반 | ||||||||
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적용 범위 | 이 표준은 가공 및 측정할 시료에 대하여 언급한다. 시료의 특성과 시료 채취를 하는 방법은 이 표준에 의해서가 아니라 시험을 수행하는 주체에 의해 정의되어야 한다.시료 채취는 시험결과의 해석에 영향을 미칠 수도 있음을 유념해야 한다.이 표준은 시료 채취를 하기 위해 제공된 분해절차를 제공하지만 다음 사항을 결정하거나 지정하지 않는다. 시료 채취에 요구되는 분해 절차의 수준? 시료로서의 구성 성분 또는 균질재료(homogenous material)에 대한 정의? 적합성 평가 절차? | ||||||||
표준명(영어) | Determination of certain substances in electrotechnical products — Part 1: Introduction and overview | ||||||||
국제표준분류(ICS)코드 |
13.020 : 환경보호 일반 43.040.10 : 전기장비 |
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국제표준 부합화 |
IEC 62321-1:2013(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2019-0477호) | ||||||||
고시사유 | 5년도래 확인표준 | ||||||||
KS심사기준 |
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페이지수 | 14 |
표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
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KS C IEC 62321-1(2024 확인) | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제1부: 서론 및 개요 | 2024-05-29 | 확인(표준) | 5년도래 확인 | |
KS C IEC 62321-1(2019 확인) | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제1부: 서론 및 개요 | 2019-12-16 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
KS C IEC 62321-1 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제1부: 서론 및 개요 | 2014-12-24 | 제정(구판) | IEC/TC111 분야 국제표준 제정에 따른 부합화 제정 | |
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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1 | KS M ISO 78-2 | 화학 표준을 위한 체계-화학 분석법 | 2021-09-28(확인) | 한글 | 25,100원 | ||
2 | KS Q ISO/IEC 17025 | 시험 및 교정 기관의 적격성에 대한 일반 요구사항 | 2019-02-05(개정) | 한글 | 34,600원 | ||
인용표준 2종 이상 선택 시 20% 할인 |
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KS C IEC 62321-2(2019 확인) - 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제2부: 분해, 분리 및 기계적 시료 준비 상세보기
KS C IEC 62321-3-2 - 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-2부: 연소-이온 크로마토그래피(C-IC)를 이용한 폴리머와 전기전자 제품에서 플루오린, 염소, 브로민의 스크리닝 상세보기
KS C IEC 62321-10 - 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제10부: 가스크로마토그래피 — 질량분석법(GC-MS)을 이용한 폴리머와 전기전자 제품 내 다환방향족탄화수소 상세보기
KS C IEC 62321-7-2 - 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제7-2부: 6가 크로뮴 — 비색법에 의한 고분자 및 전자 제품 내 6가 크로뮴[Cr(VI)]의 결정 상세보기
KS C IEC 62321-6(2022 확인) - 전기전자 제품 내 특정 물질의 정량 — 제6부: GC-MS에 의한 고분자 내 존재하는 폴리브로민화바이페닐과 폴리브로민화다이페닐에테르의 분석 상세보기
KS C IEC 62321-2(2019 확인) - 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제2부: 분해, 분리 및 기계적 시료 준비 상세보기
KS C IEC 62321-5(2019 확인) - 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제5부: AAS, AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머와 전기전자 부품에서 카드뮴과 납 및 크로뮴의 분석과 금속에서 카드뮴과 납의 분석 상세보기
KS C IEC 62321-3-1(2019 확인) - 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 상세보기
KS C IEC 62321-4(2019 확인) - 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량 상세보기
KS C IEC 62321-7-1 - 전기전자 제품 내 특정 물질의 정량 — 제7-1부: 비색법에 의한 금속의 무색 및 유색의 부식방지 코팅 내 함유된 6가 크로뮴의 확인 상세보기
IEC TS 63134:2020 - Active assisted living (AAL) use cases 상세보기
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KS C IEC TS 62872 - 산업 시설과 스마트 그리드 사이의 산업 공정 측정, 제어 및 자동화 시스템 인터페이스 상세보기
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