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분야 | 금속(D) > 분석 | ||||||||
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적용 범위 | 이 표준은 주사전자현미경(SEM) 분석에서 사용하는 용어를 정의한다. 이 표준은 체계적인 순서로 등급에 따라 분류한 일반과 특정 개념을 포함하며 해당하는 경우에 KS D ISO 23833에 정의된 용어도 사용한다. | ||||||||
표준명(영어) | Microbeam analysis-Scanning electron microscopy-Vocabulary | ||||||||
국제표준분류(ICS)코드 |
01.040.37 : 화상 공학 (용어) 37.020 : 광학기기 |
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국제표준 부합화 |
ISO 22493:2008(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2017-0610 호) | ||||||||
고시사유 | 5년도래 확인표준 | ||||||||
KS심사기준 |
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페이지수 | 24 |
표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
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KS D ISO 22493 | 마이크로빔 분석 —주사전자현미경 — 용어 | 2022-08-22 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
KS D ISO 22493(2017 확인) | 마이크로빔 분석-주사전자현미경-용어 | 2017-12-19 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
KS D ISO 22493 | 마이크로빔 분석-주사전자현미경-용어 | 2012-12-07 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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