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분야 | 전기전자(C) > 전기전자일반 | ||||||||
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적용 범위 | 이 표준은 온도의 급변 상태와 점진적 변화 상태에서 비열 분산 시편과 열 분산 시편(열 분산 시편 은 인공 냉각의 유무에 관계없음.)에 대한 내한성 시험과 내열성 시험을 다룬다. 해당하는 경우에는 시험 챔버의 사용도 다루고 있다. 이 시험 챔버는 강제 공기순환의 유무와는 관 련이 없다. 전체 시험 절차의 구성도를 부속서 K에 나타내었다. | ||||||||
표준명(영어) | Basic environmental testing procedures-Part 3:Background information-Section one:Cold and dry heat tests | ||||||||
국제표준분류(ICS)코드 |
19.040 : 환경 시험 |
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국제표준 부합화 |
IEC 60068-3-1:1974(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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고시기관(고시번호) | (제2010-0049 호) | ||||||||
고시사유 | |||||||||
KS심사기준 |
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페이지수 | 36 |
표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
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KS C IEC 60068-3-1(2022 확인) | 환경 시험 — 제3-1부: 지원 문서 및 지침 — 저온 시험과 고온 시험 | 2022-07-29 | 확인(표준) | 5년도래 확인표준 | |
KS C IEC 60068-3-1 | 환경 시험 — 제3-1부: 지원 문서 및 지침 — 저온 시험과 고온 시험 | 2017-03-10 | 개정(구판) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
KS C IEC 60068-3-1 | 기본 환경 시험 절차-제3부:기초 정보-제1절:내한성 시험과 내열성 시험 | 2010-02-25 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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