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환경 시험－제2부：시험－온도 변화 시험에 관한 지침
| 분야 | 전기전자(C) > 전기전자일반 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 지침은 온도 변화 시험의 시방 및 사용에 대해 설계자와 시험 인력에게 권고하는 것이다. 온도 변화 시험은 단일 온도 변화와 연속적인 온도 변화가 시편에 미치는 영향을 결정하기 위한 것 이다. 이 표준은 고온이나 저온으로 인한 영향을 나타내기 위해 작성된 것은 아니다. 이러한 영향에는 내 열성 시험이나 내한성 시험을 이용하는 것이 바람직하다. 이 시험의 영향은 다음으로 결정한다. － 변화에 영향을 미치는 고온 및 저온 전처리 온도값 － 시험편이 이러한 온도에 보관되는 동안 전처리 시간 － 이러한 온도의 변화율 － 전처리 주기 횟수 － 시편 간 열 전달량 | ||||||||
| 표준명(영어) | Environmental testing－Part 2：Tests－Guidance on change of temperature tests | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
19.040 : 환경 시험 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 60068-2-33:1971(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | (제2015-0078 호) | ||||||||
| 고시사유 | |||||||||
| KS심사기준 |
|
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| 페이지수 | 5 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 60068-2-33  |
환경 시험－제2부：시험－온도 변화 시험에 관한 지침 | 2015-03-11 | 폐지(폐지) | ||
| KS C IEC 60068-2-33 |
환경 시험－제2부：시험－온도 변화 시험에 관한 지침 | 2010-02-25 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
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