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Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis
| 분야 | ISO/TC 202/SC 3 : Analytical electron microscopy |
|---|---|
| 적용범위 | This document specifies a determination procedure of energy resolution in the scanning transmission electron microscope or the transmission electron microscope equipped with the electron energy loss (EEL) spectrometer. This document is applicable to both in-column type EEL spectrometer and post-column type EEL spectrometer. These EEL signal detecting systems are applicable to a parallel detecting system and a serial detecting system. |
| 국제분류(ICS)코드 | 71.040.50 : 물리화학적인 분석 방법 |
| 페이지수 | 28 |
| Edition | 1 |
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | ISO 23420:2021 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis | 2021-04-23 | 표준 |
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