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전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝
| 분야 | 전기전자(C) > 전기전자일반 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 표준은 X선 형광(XRF) 분석법을 사용하여 전기전자 제품에서 발견되는 균질 재료 중 특히 납(Pb), 수은(Hg), 카드뮴(Cd), 총 크로뮴, 총 브로민(Br)의 다섯 가지 물질에 대한 스크리닝 분석에 대해 설명한다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Determination of certain substances in electrotechnical products — Part 3-1: Screening — Lead, mercury, cadmium, total chromium and total bromine by X-ray fluorescence spectrometry | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
13.020 : 환경보호 일반 43.040.10 : 전기장비 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 62321－3-1:2013(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2024-0100호) | ||||||||
| 고시사유 | 5년도래 확인 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 36 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 62321-3-1(2024 확인)  |
전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 | 2024-05-29 | 확인(표준) | 5년도래 확인 | |
| KS C IEC 62321-3-1(2019 확인) |
전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 | 2019-12-16 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 62321-3-1 |
전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 | 2014-12-24 | 제정(구판) | IEC/TC111분야 국제표준 제정에 따른 부합화 제정 | |
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | KS C IEC 62321－1 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제1부: 서론 및 개요 | 2024-05-29(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 2 | KS C IEC 62321-2 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제2부: 분해, 분리 및 기계적 시료 준비 | 2019-12-16(확인) | 한글 | 30,400원 | ||
인용표준 2종 이상 선택 시 20% 할인 |
총 0종 선택 |
0원 0원 |
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