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분야 | 전기전자(C) > 전기전자일반 | ||||||||
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적용 범위 | 이 표준은 CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS를 사용하여 폴리머, 금속 및 전기전자 부품 내의 수은을 시험하는 방법에 대해 설명한다. | ||||||||
표준명(영어) | Determination of certain substances in electrotechnical products — Part 4: Mercury in polymers, metals and electronics by CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES and ICP-MS | ||||||||
국제표준분류(ICS)코드 |
13.020 : 환경보호 일반 43.040.10 : 전기장비 |
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국제표준 부합화 |
IEC 62321-4:2013+AMD1:2017 CSV(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2023-0591호) | ||||||||
고시사유 | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | ||||||||
KS심사기준 |
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페이지수 | 27 |
표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
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KS C IEC 62321-4 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량 | 2023-12-15 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
KS C IEC 62321-4(2019 확인) | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량 | 2019-12-16 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
KS C IEC 62321-4 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량 | 2014-12-24 | 제정(구판) | IEC/TC111 분야 국제표준 제정에 따른 부합화 | |
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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3 | KS C IEC 62321-3-1 | 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝 | 2024-05-29(확인) | 한글 | 34,600원 | ||
4 | KS M ISO 3696 | 분석 실험용 물-규격 및 분석 방법 | 2020-12-30(확인) | 한글 | 12,800원 | ||
인용표준 2종 이상 선택 시 20% 할인 |
총 0종 선택 |
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