상세정보

이력정보

표준번호	표준명	고시일	상태	고시사유	비고
KS C IEC 60747-14-1	반도체 소자 — 제14-1부: 반도체 센서 — 센서의 일반 규격	2021-12-29	개정(표준)	민원신청에 의한 개정
KS C IEC 60747-14-1	반도체 소자 — 제14-1부: 반도체 센서 —센서의 일반 규격	2019-12-31	개정(구판)	국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영
KS C IEC 60747-14-1(2013 확인)	반도체소자 - 제14-1부 : 반도체 센서 - 일반 및 분류	2013-12-31	확인(구판)
KS C IEC 60747-14-1(2008 확인)	반도체소자 - 제14-1부 : 반도체 센서 - 일반 및 분류	2008-11-28	확인(구판)
KS C IEC 60747-14-1	반도체 소자－제14－1부：반도체 센서－일반 사항 및 분류	2003-12-29	개정(구판)
KS C IEC 60747-14-1	반도체 센서 용어 및 기호	1996-12-30	제정(구판)
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다.

인용표준

No.	표준번호	표준명	고시일	언어	제공형태	판매가격
1	KS A IEC 60410	계수값 검사를 위한 샘플링 계획과 절차	2022-09-02(확인)	한글	PDF	55,100원
2	KS C IEC 61193-2	품질평가시스템－ 제2부：전자부품과 패키지 검사에 관한 샘플계획의 선정 및 사용	2020-11-09(확인)	한글	PDF	12,000원
3	KS Q ISO 2859-1	계수형 샘플링검사 절차 — 제1부: 로트별 합격품질한계(AQL) 지표형 샘플링검사 방식	2023-12-29(개정)	한글	PDF	90,000원
인용표준 2종 이상 선택 시 20% 할인				총 0종 선택		0원 0원	장바구니 담기 상품이 장바구니에 담겼습니다. 장바구니로 이동

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