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표준
판매
반도체 소자 — 제1부: 일반사항
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | IEC 60747의 목적은 다음과 같다. －집적 회로뿐 아니라 개별 소자에도 일반적으로 적 용 가능한 표준 제시 －개별 소자를 위한 표준 규격을 완성하기 위한 기 준 추가 | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices — Part 1: General | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 60747-1:2006+AMD1:2010 CSV(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2020-0142호) | ||||||||
| 고시사유 | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 43 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 60747-1  |
반도체 소자 — 제1부: 일반사항 | 2020-07-23 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
| KS C IEC 60747-1(2015 확인) |
반도체 소자－개별 소자 및 집적 회로－제1부：일반 사항 | 2015-02-25 | 확인(구판) | 최종 정비후 5년이 도래한 표준으로 확인 | |
| KS C IEC 60747-1(2009 확인) |
반도체소자 - 개별소자 및 집적회로 - 제1부 : 일반사항 | 2009-12-24 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60747-1 |
반도체 소자－개별 소자 및 집적 회로－제1부：일반 사항 | 2004-08-13 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | KS C IEC 60027-1 | 전기기술분야에 사용되는 문자 기호 — 제1부: 일반 | 2022-12-27(개정) | 한글 | 55,000원 | ||
| 2 | KS C IEC 60027-2 | 전기기술분야에 사용되는 문자 기호 — 제2부: 통신 및 전자 | 2022-12-27(개정) | 한글 | 60,600원 | ||
| 3 | KS C IEC 60027-3 | 전기기술분야에 사용되는 문자 기호 — 제3부: 로그, 관련 양 및 단위 | 2022-12-27(개정) | 한글 | 18,000원 | ||
| 4 | KS C IEC 60027-4 | 전기기술분야에 사용되는 문자 기호 — 제4부: 회전 전기 기계 | 2022-12-27(개정) | 한글 | 25,000원 | ||
| 5 | KS C IEC 60050-521 | 반도체 소자 - 집적회로 용어 | 2022-08-25(확인) | 한글 | 31,700원 | ||
| 6 | KS C IEC 60050-702 | 국제전기기술용어 — 제702부:발진, 신호 및 관련 장치 | 2023-05-12(확인) | 한글 | 42,600원 | ||
| 7 | KS C IEC 60068-1 | 환경 시험－제1부：일반사항 및 지침 | 2022-07-29(확인) | 한글 | 31,700원 | ||
| 8 | KS C IEC 60068-2-1 | 환경 시험 - 제2-1부 : 시험 - 시험 A : 내한성 시험 | 2020-10-28(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 9 | KS C IEC 60068-2-10 | 환경 시험 — 제2-10부: 시험 — 시험 J와 지침서: 곰팡이 성장 | 2024-06-10(확인) | 한글 | 34,600원 | ||
| 10 | KS C IEC 60068-2-11 | 환경 시험 — 제2-11부: 시험 —시험 Ka: 염수분무 | 2022-06-17(개정) | 한글 | 21,100원 | ||
| 11 | KS C IEC 60068-2-13 | 환경 시험 — 제2-13부: 시험 —시험 M: 저기압 | 2022-09-30(개정) | 한글 | 14,800원 | ||
| 12 | KS C IEC 60068-2-14 | 환경 시험 — 제2-14부: 시험 — 시험 N: 온도 변화 | 2024-06-10(확인) | 한글 | 7,800원 | ||
| 13 | KS C IEC 60068-2-17 | 환경 시험 — 제2-17부: 시험 — 시험 Q: 기밀성시험 | 2022-07-29(확인) | 한글 | 42,600원 | ||
| 14 | KS C IEC 60068-2-18 | 환경 시험 — 제2-18부: 시험 — 시험 R과 지침: 물 | 2021-09-24(개정) | 한글 | 39,600원 | ||
| 15 | KS C IEC 60068-2-2 | 환경 시험 — 제2-2부: 시험 — 시험 B: 내열성 시험 | 2024-06-10(확인) | 한글 | 14,800원 | ||
| 16 | KS C IEC 60068-2-20 | 환경 시험 — 제2-20부: 시험 — 시험 Ta 및 Tb: 리드가 있는 부품의 땜질성 및 땜질 내열성 시험방법 | 2022-12-08(개정) | 한글 | 25,000원 | ||
| 17 | KS C IEC 60068-2-21 | 환경 시험 — 제2-21부: 시험 — 시험 U: 단자 및 일체형 실장 부품의 견고성 | 2022-12-08(개정) | 한글 | 39,600원 | ||
| 18 | KS C IEC 60068-2-27 | 환경 시험－제2-27부：시험－시험 Ea와 지침：충격 시험 | 2022-07-29(확인) | 한글 | 34,700원 | ||
| 19 | KS C IEC 60068-2-30 | 환경 시험 — 제2-30부: 시험 — 시험 Db와 지침: 주기적 내습 (12 h + 12 h 주기) | 2020-12-15(개정) | 한글 | 18,000원 | ||
| 20 | KS C IEC 60068-2-31 | 환경 시험 — 제2-31부: 시험 — 시험 Ec: 주로 장비형 시편에 사용하는 거친 취급시 충격 | 2024-06-10(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 21 | KS C IEC 60068-2-33 | 환경 시험－제2부：시험－온도 변화 시험에 관한 지침 | 2015-03-11(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 22 | KS C IEC 60068-2-38 | 환경 시험 — 제2-38부: 시험 — 시험 Z/AD: 복합 온도/습도 사이클 시험 | 2022-11-10(개정) | 한글 | 25,000원 | ||
| 23 | KS C IEC 60068-2-39 | 환경 시험 — 제2-39부: 시험 — 시험 및 지침 — 온도 또는 온도와 습도가 결합된 저기압 시험 | 2023-03-22(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 24 | KS C IEC 60068-2-42 | 환경 시험 — 제2-42부 시험 — Kc: 접점 및 접점부에 대한 이산화황 시험 | 2020-12-30(개정) | 한글 | 10,900원 | ||
| 25 | KS C IEC 60068-2-43 | 기본 환경 시험 절차 — 제2-43부: 시험— 시험 Kd: 접점 및 접속부에 대한 황화수소 시험 | 2020-12-30(개정) | 한글 | 14,800원 | ||
| 26 | KS C IEC 60068-2-44 | 환경 시험 방법－ 제2부：Test T：납땜 시험 지침서 | 2020-11-09(확인) | 한글 | 12,000원 | ||
| 27 | KS C IEC 60068-2-45 | 환경 시험 — 제2-45부: 시험 — 시험 XA와 지침: 세정제에 침지 | 2024-06-10(확인) | 한글 | 14,800원 | ||
| 28 | KS C IEC 60068-2-46 | 환경 시험－제2－46부：시험－시험 Kd에 대한 지침：접점 및 접속부에 대한 황화수소 시험 | 2014-04-02(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 29 | KS C IEC 60068-2-47 | 환경 시험－제2-47부：시험－진동, 충격 및 이와 유사한동적 시험을 위한 시편의 부착 | 2020-10-28(확인) | 한글 | 27,900원 | ||
| 30 | KS C IEC 60068-2-48 | 환경 시험 방법(전기 . 전자) - 저장효과 시험의 적용 지침 | 2013-12-18(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 31 | KS C IEC 60068-2-49 | 환경 시험－제2－49부：시험－시험 Kc에 대한 지침：접점 및 접속부에 대한 이산화황 시험 | 2014-04-02(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 32 | KS C IEC 60068-2-5 | 환경 시험 — 제2-5부: 시험 — 시험 S:지표면에서의 모의 태양광 시험과 태양 방사 지침 및 내후성 지침 | 2021-09-24(개정) | 한글 | 7,800원 | ||
| 33 | KS C IEC 60068-2-52 | 환경 시험 — 제2-52부: 시험 — 시험 Kb:염수분무, 사이클(염화소듐 용액) | 2022-06-17(개정) | 한글 | 21,100원 | ||
| 34 | KS C IEC 60068-2-53 | 환경 시험－제2부：시험－시험 Z/AFc와 Z/BFc에 대한 지침：결합 온도(내한성 및 내열성) 시험과 진동(정현파) 시험 | 2022-07-29(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 35 | KS C IEC 60068-2-54 | 기본 환경시험 절차－제2－54부：시험－시험 Ta：납땜－평형법에 의한 납땜성 시험 | 2020-11-09(확인) | 한글 | 14,100원 | ||
| 36 | KS C IEC 60068-2-55 | 환경 시험 — 제2-55부: 시험 Ee와 지침 — 반동을 포함한 비결속 화물 시험 | 2023-03-22(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 37 | KS C IEC 60068-2-57 | 환경 시험 — 제2-57부: 시험 — 시험 Ff: 진동 — 시간 이력과 사인비트 방법 | 2024-06-10(확인) | 한글 | 37,600원 | ||
| 38 | KS C IEC 60068-2-58 | 기본 환경시험 절차－제2－58부：시험－시험 Td：표면실장부품 (SMD)의 납땜성, 금속 내침식성 및 납땜 내열성 시험방법 | 2022-08-31(확인) | 한글 | 16,700원 | ||
| 39 | KS C IEC 60068-2-6 | 환경 시험 — 제2-6부: 시험 — 시험 Fc: 진동(정현파) | 2020-10-28(확인) | 한글 | 37,600원 | ||
| 40 | KS C IEC 60068-2-60 | 환경 시험 — 제2-60부: 시험 —시험 Ke: 유동 혼합 가스 부식 시험 | 2024-06-10(확인) | 한글 | 21,100원 | ||
| 41 | KS C IEC 60068-2-61 | 환경 시험 — 제2-61부: 시험방법 — 시험 Z/ABDM: 일련 내후성 | 2020-12-30(개정) | 한글 | 14,800원 | ||
| 42 | KS C IEC 60068-2-64 | 환경 시험 — 제2-64부: 시험 — 시험 Fh: 광대역 랜덤 진동 시험 및 지침 | 2023-11-17(개정) | 한글 | 39,600원 | ||
| 43 | KS C IEC 60068-2-65 | 환경 시험 — 제2-65부: 시험 — 시험 Fg: 진동 — 음향 유도 방법 | 2024-06-10(확인) | 한글 | 27,900원 | ||
| 44 | KS C IEC 60068-2-66 | 환경 시험 — 제2-66부: 안정 상태의 내습성 시험(불포화 증기 압력) | 2020-12-30(개정) | 한글 | 14,800원 | ||
| 45 | KS C IEC 60068-2-67 | 환경 시험 — 제2-67부: 시험 — 시험 Cy: 주로 부품을 대상으로 하는 습열, 정상 상태, 가속 시험 | 2023-11-17(개정) | 한글 | 14,800원 | ||
| 46 | KS C IEC 60068-2-68 | 환경 시험 — 제2-68부: 시험—시험 L: 분진 및 모래 | 2020-12-30(개정) | 한글 | 39,600원 | ||
| 47 | KS C IEC 60068-2-69 | 환경시험 — 제2-69부: 시험 — Te/Tc 시험: 웨팅 밸런스(힘 측정)법에 의한 전자부품 및 회로기판의 땜질성 시험 | 2021-12-29(개정) | 한글 | 45,600원 | ||
| 48 | KS C IEC 60068-2-7 | 기본 환경 시험 절차 — 제2-7부: 시험 — 시험 Ga와 지침: 가속, 정상상태 | 2020-12-30(개정) | 한글 | 18,000원 | ||
| 49 | KS C IEC 60068-2-70 | 환경 시험 — 제2-70부: 손 접촉에 의한 표식 및 글자의 마모 시험 | 2020-12-30(개정) | 한글 | 9,600원 | ||
| 50 | KS C IEC 60068-2-74 | 환경 시험 — 제2-74부: 시험 —시험 Xc: 유체 오염 | 2021-09-24(개정) | 한글 | 21,100원 | ||
| 51 | KS C IEC 60068-2-75 | 환경 시험 — 제2-75부: 시험 — 시험 Eh: 해머 시험 | 2022-07-29(확인) | 한글 | 31,700원 | ||
| 52 | KS C IEC 60068-2-77 | 환경 시험－제2-77부：본체 강도 및 충격 시험 | 2022-12-08(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 53 | KS C IEC 60068-2-78 | 환경 시험 — 제2-78부: 시험 — 시험 Cab: 안정 상태의 내습성 시험 | 2023-03-22(확인) | 한글 | 10,900원 | ||
| 54 | KS C IEC 60068-2-80 | 환경 시험－제2-80부：시험－시험 Fi：진동－혼합 모드 | 2020-10-28(확인) | 한글 | 34,700원 | ||
| 55 | KS C IEC 60068-2-81 | 환경 시험 — 제2-81부: 테스트 Ei: 충격 응답 스펙트럼 | 2020-12-30(개정) | 한글 | 25,000원 | ||
| 56 | KS C IEC 60068-2-82 | 환경시험 — 제2-82부: 시험 — 시험 Xw1: 전자실장용 부품에 대한 휘스커 시험방법 | 2021-06-16(개정) | 한글 | 34,600원 | ||
| 57 | KS C IEC 60068-2-9 | 기본 환경 시험 절차－제2부：태양 복사열 시험 지침서 | 2017-05-18(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 58 | KS C IEC 60068-3-1 | 환경 시험 — 제3-1부: 지원 문서 및 지침 — 저온 시험과 고온 시험 | 2022-07-29(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 59 | KS C IEC 60068-3-11 | 환경 시험 — 제3-11부: 보조 문서와 지침 — 기후 시험 챔버 조건의 불확도 계산 | 2024-06-10(확인) | 한글 | 27,900원 | ||
| 60 | KS C IEC 60068-3-12 | 환경시험 — 제3-12부: 보조문서 및 지침 —무연 땜 리플로 온도 프로파일 평가방법 | 2021-12-29(개정) | 한글 | 18,000원 | ||
| 61 | KS C IEC 60068-3-2 | 기본 환경시험 절차 3장 : 배경정보 2항 - 온도/저기압 복합시험 | 2019-12-30(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 62 | KS C IEC 60068-3-3 | 환경 시험 — 제3-3부: 기기의 내진 시험 방법의 지침 | 2020-12-30(개정) | 한글 | 31,600원 | ||
| 63 | KS C IEC 60068-3-4 | 환경 시험－제3-4부：지원문서 및 지침－내습성 시험 | 2020-10-28(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 64 | KS C IEC 60068-3-5 | 환경 시험 — 제3-5부: 지원 문서 및 지침 — 항온조 성능의 확인 | 2021-09-24(개정) | 한글 | 18,000원 | ||
| 65 | KS C IEC 60068-3-6 | 환경 시험 — 제3-6부: 지원 문서 및 지침 — 항온항습조 성능의 확인 | 2021-09-24(개정) | 한글 | 21,100원 | ||
| 66 | KS C IEC 60068-3-7 | 환경 시험 — 제3-7부: 지원 문서 및 지침 — 시험 A(내한성)와 B(내열성)에 대한 항온조 내의 측정(부하 시) | 2022-06-17(개정) | 한글 | 14,800원 | ||
| 67 | KS C IEC 60068-3-8 | 환경 시험－제3－8부：지원 문서 및 지침－진동 시험의 선택 | 2020-10-28(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 68 | KS C IEC 60068-4 | 기본 환경 시험 방법 절차－제4부：규격서 작성자를 위한 정보－제4부：규격서 작성자를 위한 정보－ | 2015-03-11(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 69 | KS C IEC 60068-5-2 | 환경 시험 — 제5-2부: 시험 방법 초안 작성 지침서 — 용어 및 정의 | 2020-12-30(개정) | 한글 | 10,900원 | ||
| 70 | KS C IEC 60747-1 | 반도체 소자 — 제1부: 일반사항 | 2020-07-23(개정) | 한글 | 39,600원 | ||
| 71 | KS C IEC 60747-10 | 반도체 소자－제10부：개별 소자 및 집적 회로에 대한 품목 규격 | 2020-06-23(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 72 | KS C IEC 60747-11 | 개별 반도체 소자－제11부：개별 소자의 품종 규격 | 2022-12-08(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 73 | KS C IEC 60747-14-1 | 반도체 소자 — 제14-1부: 반도체 센서 — 센서의 일반 규격 | 2021-12-29(개정) | 한글 | 25,000원 | ||
| 74 | KS C IEC 60747-2 | 반도체 소자 — 제2부：개별 소자 —정류 다이오드 | 2021-12-29(개정) | 한글 | 42,600원 | ||
| 75 | KS C IEC 60747-2-1 | 반도체 소자－개별 소자－제2부：정류 다이오드－제1절：100 A 이하의 주위 및 케이스 정격 정류 다이오드 (애벌란시 정류 다이오드 포함)의 개별 규격 지침 | 2021-09-28(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 76 | KS C IEC 60747-2-2 | 반도체 소자－개별 소자－제2부：정류 다이오드－제2절：100 A 초과의 주위 및 케이스 정격 정류 다이오드 (애벌란시 정류 다이오드 포함)의 개별 규격 지침 | 2021-09-28(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 77 | KS C IEC 60747-3 | 반도체 소자－개별 소자－제3부：신호(스위칭 포함) 및 정전압 다이오드 | 2021-09-28(확인) | 한글 | 31,700원 | ||
| 78 | KS C IEC 60747-3-1 | 반도체 소자－개별 소자－제3부：신호(스위칭 포함) 및 정전압 다이오드－제1절：신호 다이오드, 스위칭 다이오드 및 제어 애벌란시 다이오드의 개별 규격 지침 | 2021-12-29(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 79 | KS C IEC 60747-3-2 | 반도체 소자－개별 소자－제3부：신호(스위칭 포함) 및 정전압 다이오드－제2절：온도 보상형 정밀 기준 다이오드를 제외한 정전압 다이오드 및 전압 기준 다이오드의 개별 규격 지침 | 2021-12-29(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 80 | KS C IEC 60747-4 | 반도체 소자 — 개별 소자 — 제4부: 마이크로파 다이오드 및 트랜지스터 | 2022-12-08(개정) | 한글 | 103,900원 | ||
| 81 | KS C IEC 60747-4-1 | 반도체 소자－개별 소자－제4－1부：마이크로파 다이오드 및 트랜지스터－마이크로파 전계 효과 트랜지스터－개별 규격 지침 | 2020-06-23(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 82 | KS C IEC 60747-4-2 | 반도체 소자－개별 소자－제4－2부：마이크로파 다이오드 및 트랜지스터－집적 회로 마이크로파 증폭기－개별 규격 지침 | 2022-07-20(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 83 | KS C IEC 60747-5 | 반도체 소자 — 개별 소자 —제5부: 광전소자 | 2020-12-24(개정) | 한글 | 103,900원 | ||
| 84 | KS C IEC 60747-5-1 | 개별 반도체 소자 및 집적 회로 —제5-1부: 광전소자 — 일반 사항 | 2020-12-24(개정) | 한글 | 34,600원 | ||
| 85 | KS C IEC 60747-5-2 | 개별 반도체 소자 및 집적 회로 —제5-2부: 광전소자 — 필수 정격 및 특성 | 2020-12-24(개정) | 한글 | 7,800원 | ||
| 86 | KS C IEC 60747-5-3 | 개별 반도체 소자 및 집적 회로— 제5-3부: 광전 소자 — 측정 방법 | 2020-12-24(개정) | 한글 | 37,600원 | ||
| 87 | KS C IEC 60747-6 | 반도체 소자 — 제6부：개별 소자 —사이리스터 | 2021-12-29(개정) | 한글 | 103,900원 | ||
| 88 | KS C IEC 60747-6-1 | 반도체 소자－개별 소자－제6부：사이리스터－제1절：100 A 이하의 주위 및 케이스 정격 역방향 저지 3극 사이리스터의 개별 규격 지침 | 2021-09-28(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 89 | KS C IEC 60747-6-2 | 반도체 소자－개별 소자－제6부：사이리스터－제2절：100 A 이하의 주위 및 케이스 정격 양방향 3극 사이리스터(트라이액)의 개별 규격 지침 | 2021-09-28(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 90 | KS C IEC 60747-6-3 | 반도체 소자－개별 소자－제6부：사이리스터－제3절：100 A 초과의 주위 및 케이스 정격 역방향 저지 3극 사이리스터의 개별 규격 지침 | 2021-09-28(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 91 | KS C IEC 60747-7 | 반도체 소자 — 개별 소자 — 제7부: 바이폴러 트랜지스터 | 2022-12-08(개정) | 한글 | 72,600원 | ||
| 92 | KS C IEC 60747-7-1 | 반도체 소자－개별 소자－제7부：바이폴러 트랜지스터－제1절：고주파,저주파 증폭용 주위 정격 바이폴러 트랜지스터의 개별 규격 지침 | 2021-12-29(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 93 | KS C IEC 60747-7-2 | 반도체 소자－개별 소자－제7부：바이폴러 트랜지스터－제2절：저주파 증폭용 케이스 정격 바이폴러 트랜지스터의 개별 규격 지침 | 2021-12-29(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 94 | KS C IEC 60747-7-3 | 반도체 소자－개별 소자－제7부：바이폴러 트랜지스터－제3절：스위칭용 바이폴러 트랜지스터의 개별 규격 지침 | 2021-12-29(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 95 | KS C IEC 60747-7-4 | 반도체 소자－개별 소자－제7부：바이폴러 트랜지스터－제4절：고주파 증폭용 케이스 정격 바이폴러 트랜지스터의 개별 규격 지침 | 2021-12-29(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 96 | KS C IEC 60747-8 | 반도체 소자 — 개별 소자 —제8부: 전계 효과 트랜지스터 | 2020-12-31(개정) | 한글 | 66,300원 | ||
| 97 | KS C IEC 60748-1 | 반도체 소자 — 집적 회로 — 제1부: 일반 | 2021-12-29(개정) | 한글 | 34,600원 | ||
| 98 | KS C IEC 60748-11 | 반도체 소자 — 집적 회로 — 제11부:반도체 집적 회로에 대한 품종 규격(혼성 회로 제외) | 2020-07-23(개정) | 한글 | 34,600원 | ||
| 99 | KS C IEC 60748-11-1 | 반도체 소자－집적 회로－제11－1부：혼성 회로를 제외한 반도체 집적 회로를 위한 내장 검사 | 2020-11-20(확인) | 한글 | 31,700원 | ||
| 100 | KS C IEC 60748-2 | 반도체 소자－집적 회로－제2부：디지털 집적 회로 | 2021-09-28(확인) | 한글 | 117,500원 | ||
| 101 | KS C IEC 60748-20 | 반도체 소자 — 집적회로 — 제20부: 필름 집적회로 및 하이브리드 필름 집적회로의 일반 규격서 | 2021-12-29(개정) | 한글 | 39,600원 | ||
| 102 | KS C IEC 60748-20-1 | 반도체 소자 - 집적회로 제20-1부 : 필름 집적회로 및 하이브리드 필름 집적회로의 일반 규격서 - 내부 육안검사 요구사항 | 2019-12-31(확인) | 한글 | 21,100원 | ||
| 103 | KS C IEC 60748-2-1 | 반도체 소자 집적 회로－제2부：디지털 집적 회로 1절：바이폴러 모노리식 디지털 집적 회로 게이트 개별 규격 지침 (규정되지 않은 논리 배열은 제외) | 2021-09-28(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 104 | KS C IEC 60748-2-10 | 반도체 소자 집적 회로－제2부：디지털 집적 회로 10절－집적 회로 동적 읽기/쓰기 메모리 개별 규격 지침 (규정되지 않은 논리 배열은 제외) | 2021-09-28(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 105 | KS C IEC 60748-2-11 | 반도체 소자－집적 회로－제2－11부：디지털 집적 회로－전기 소거 EPROM | 2022-07-20(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 106 | KS C IEC 60748-2-12 | 반도체 소자－집적 회로－제2－12부：디지털 집적 회로－PLD | 2022-07-20(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 107 | KS C IEC 60748-2-2 | 반도체 소자 — 집적 회로 — 제2-2부: 디지털 집적 회로 — HCMOS 패밀리, 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU 시리즈 | 2019-12-31(확인) | 한글 | 21,100원 | ||
| 108 | KS C IEC 60748-2-20 | 반도체 소자 — 집적 회로 — 제2-20부: 디지털 집적 회로 — 저전압 집적 회로 계열의 기준 | 2021-12-29(개정) | 한글 | 21,100원 | ||
| 109 | KS C IEC 60748-2-3 | 반도체 소자－집적 회로－제2－3부：디지털 집적 회로－HCMOS의 사양 | 2022-07-20(확인) | 한글 | 12,800원 | ||
| 110 | KS C IEC 60748-23-1 | 반도체 소자－집적 회로－제23－1부：하이브리드 집적 회로 및 필름 구조－제조 라인 인증－일반 시방서 | 2019-12-31(확인) | 한글 | 55,100원 | ||
| 111 | KS C IEC 60748-23-3 | 반도체 소자－집적 회로－제23－3부：하이브리드 집적 회로 및필름 구조－제조 라인 인증－제조자의 자가 감사 점검표 및 보고서 | 2019-12-31(확인) | 한글 | 51,700원 | ||
| 112 | KS C IEC 60748-2-4 | 반도체 소자－집적 회로－제2－4부：디지털 집적 회로－4 000B, 4 000UB | 2022-07-20(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 113 | KS C IEC 60748-2-5 | 반도체 소자－집적 회로 제2－5부：디지털 집적 회로－4 000B, 4 000UB | 2022-07-20(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 114 | KS C IEC 60748-2-6 | 반도체 소자－집적 회로－제2－6부：디지털 집적 회로－마이크로프로세서 | 2022-07-20(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 115 | KS C IEC 60748-2-7 | 반도체 소자－집적 회로－제2－7부：디지털 집적 회로－PROM | 2022-07-20(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 116 | KS C IEC 60748-2-8 | 반도체 소자－집적 회로－제2－8부：디지털 집적 회로－스태틱 메모리 | 2022-07-20(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 117 | KS C IEC 60748-2-9 | 반도체 소자－집적 회로－제2－9부：디지털 집적 회로－자외선 소거형 EPROM | 2022-07-20(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 118 | KS C IEC 60748-3 | 반도체 소자－집적 회로 제3부：아날로그 집적 회로 | 2022-07-20(확인) | 한글 | 104,000원 | ||
| 119 | KS C IEC 60748-3-1 | 반도체 소자－집적 회로－제3-1부：아날로그 집적 회로－OP 앰프 | 2022-07-20(확인) | 한글 | 14,900원 | ||
| 120 | KS C IEC 60748-4 | 반도체 소자－집적 회로－제4부：인터페이스 집적 회로 | 2020-11-20(확인) | 한글 | 90,000원 | ||
| 121 | KS C IEC 60748-4-1 | 반도체 소자 — 집적 회로 — 제4-1부: 인터페이스 집적 회로 — D/A 컨버터의 규격서 | 2019-12-31(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 122 | KS C IEC 60748-4-2 | 반도체 소자 — 집적 회로 — 제4-2부: 인터페이스 집적 회로 — A/D 컨버터의 규격서 | 2019-12-31(확인) | 한글 | 21,100원 | ||
| 123 | KS C IEC 60748-5 | 반도체 소자 — 집적 회로 —제5부: 반주문형 집적 회로 | 2021-12-29(개정) | 한글 | 27,900원 | ||
| 124 | KS C IEC 61340-2-1 | 정전기－제2－1부：측정 방법－재료 및 제품에 대한 정전기 전하 확산도 | 2022-09-01(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 125 | KS C IEC 61340-2-2 | 정전기 — 제2-2부: 측정방법 —전하량 측정 | 2020-11-09(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 126 | KS C IEC 61340-2-3 | 정전기－제2－3부：정전기 전하 축적 방지용 고체 평판의 저항 및 저항률 측정법 | 2020-11-09(확인) | 한글 | 18,000원 | ||
| 127 | KS C IEC 61340-3-1 | 정전기－제3－1부：정전기 영향의 시뮬레이션 방법：인체모델(HBM)－부품소자시험 | 2022-12-30(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 128 | KS C IEC 61340-3-2 | 정전기－제3－2부：정전기 영향의 시뮬레이션 방법－기계모델(MM)－부품소자시험 | 2022-12-30(폐지) | 한글 | 0원 | 폐지 | |
| 129 | KS C IEC 61340-4-1 | 정전기학 — 제4-1부: 구체적 적용 분야에 대한 표준 시험방법 — 바닥 깔개 및 설치된 바닥재의 전기 저항 | 2023-02-20(개정) | 한글 | 18,000원 | ||
| 130 | KS C IEC 61340-4-3 | 정전기－제4－3부：개별 제품의 표준 시험방법－신발류 | 2022-09-01(확인) | 한글 | 10,900원 | ||
| 131 | KS C IEC 61340-4-4 | 정전기－제4－4부：개별 제품의 표준 시험방법－산업용 포장재(FIBC)의 정전 분류 | 2022-09-01(확인) | 한글 | 25,100원 | ||
| 132 | KS C IEC 61340-4-5 | 정전기－제4－5부：개별 제품의 표준 시험 방법－인체와 접촉하는 신발류 및 바닥재의 정전 보호 기술 방법 | 2022-09-01(확인) | 한글 | 25,100원 | ||
| 133 | KS C IEC 61340-5-1 | 정전기학 — 제5-1부: 정전기 현상으로부터 전자 장치 보호 — 일반 요구사항 | 2023-02-20(개정) | 한글 | 25,000원 | ||
| 134 | KS C IEC 61340-5-2 | 정전기학 — 제5-2부: 정전기 현상으로부터 전자 장치의 보호 — 사용자 지침 | 2023-02-20(개정) | 한글 | 79,000원 | ||
| 135 | KS Q ISO 9000 | 품질경영시스템 — 기본사항과 용어 | 2021-03-30(확인) | 한글 | 32,500원 | ||
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KS C IEC 60747-10 - 반도체 소자－제10부：개별 소자 및 집적 회로에 대한 품목 규격 상세보기
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