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반도체 소자－제10부：개별 소자 및 집적 회로에 대한 품목 규격
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 규격은 IEC 전자 부품 품질 인증 제도의 일부분이 다. 이 규격은 반도체 소자(혼성 회로를 제외하고 멀티 칩 집적 회로를 포함하는 개별 소자와 집적 회로)를 위한 품목 규격이다. 이 규격은 IECQ 제도에 사용될 품질 평가의 일반적 절차를 정의하고 다음에 대한 일반적 규칙을 제공한 다. －전기적 특성에 대한 측정 방법 －기후 및 기계적 시험 －내구성 시험 비 고 특정한 개별 형식 또는 형식이 적절한 경 우 이 규격은 승인된 품종, 패밀리 규격 및 개별 규 격지침에 의해 보충되어야 한다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices－Part 10：Generic specification for discrete devices and integrated circuits | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
31.080.01 : 반도체 장치 일반 31.200 : 직접회로. 마이크로 엘렉트로닉스 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 60747-10:1991(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2020-0116호) | ||||||||
| 고시사유 | 현재 IEC/TC47/SC47E 위원회에서 폐지된 상태임 - 폐지일: 2015-12-31 2. 본 KS 표준의 폐지 근거 문서 및 사유 - 근거문서: 47E/513/RR - 폐지의 이유: IEC 60747-10 Ed.2 is no longer in use. - 반도체 소자의 용도, 특성 등에 따른 특화된 품질관리 표준이 개발되고 있으므로 본 표준은 사용의 빈도가 극히 적은 것으로 판단됨 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 29 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 60747-10  |
반도체 소자－제10부：개별 소자 및 집적 회로에 대한 품목 규격 | 2020-06-23 | 폐지(폐지) | 현재 IEC/TC47/SC47E 위원회에서 폐지된 상태임 - 폐지일: 2015-12-31 2. 본 KS 표준의 폐지 근거 문서 및 사유 - 근거문서: 47E/513/RR - 폐지의 이유: IEC 60747-10 Ed.2 is no longer in use. - 반도체 소자의 용도, 특성 등에 따른 특화된 품질관리 표준이 개발되고 있으므로 본 표준은 사용의 빈도가 극히 적은 것으로 판단됨 | |
| KS C IEC 60747-10(2015 확인) |
반도체 소자－제10부：개별 소자 및 집적 회로에 대한 품목 규격 | 2015-02-25 | 확인(구판) | 최종 정비후 5년이 도래한 표준으로 확인 | |
| KS C IEC 60747-10(2009 확인) |
반도체소자 - 제10부 : 개별소자 및 집적회로에 대한 품목규격 | 2009-12-24 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60747-10 |
반도체 소자－제10부：개별 소자 및 집적 회로에 대한 품목 규격 | 2004-08-13 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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