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분야 | 금속(D) > 분석 | ||||||||
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적용 범위 | 이 표준은 투과전자현미경을 이용하여 공기 중의 부유물이나 부형제 속에 있는 구형 금속 나노입자의 시료포집, 시편제작, 지름 및 지름분포 측정방법에 대하여 규정한다. | ||||||||
표준명(영어) | Measurement of nanoparticle diameter-Transmission electron microscope | ||||||||
국제표준분류(ICS)코드 |
71.040 : 분석화학 |
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국제표준 부합화 | |||||||||
고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2018-0474호) | ||||||||
고시사유 | 5년도래 확인표준 | ||||||||
KS심사기준 |
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페이지수 | 7 |
표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
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KS D 2716 | 나노입자 직경 측정방법 — 투과전자현미경 | 2023-06-30 | 개정(표준) | 산업계 의견에 따라 적용범위를 확대함 | |
KS D 2716(2018 확인) | 나노입자 지름 측정방법-투과전자현미경 | 2018-12-04 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
KS D 2716(2013 확인) | 나노입자 지름 측정방법-투과전자현미경 | 2013-12-19 | 확인(구판) | ||
KS D 2716 | 나노입자 지름 측정방법-투과전자현미경 | 2008-12-26 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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