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분야 | 전기전자(C) > 전기·전자·통신부품 | ||||||||
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적용 범위 | 이 표준은 커넥터에 결합한 접촉자 쌍의 전기적 과부하 시험을 규정한다. 이 시험의 목적은 100 ms에서 20 s 사이의 제한된 시간 동안 과부하 전류가 통과하는 결합한 커넥터 접 촉자 쌍의 성능을 평가하기 위한 표준 방법을 만드는 것이다. 이 시험 절차는 전기적 과부하가 접촉자에 적용될 때 규정된 시간 동안의 온도 상승을 측정하는 것에 바 탕을 두고 있다. 정격 전류의 정수배로 규정하는 과부하 전류에 대한 시간의 변화에 따른 온도 상승을 측정하며, 시간 변 화에 따른 과부하 전류의 다이어그램을 작성한다. 비고 실무를 통하여 제한된 시간 동안 접촉자가 접촉 구역에 손상을 주지 않고 복수의 최대 허용가능 전류를 전도할 수 있다는 것을 알 수 있다. | ||||||||
표준명(영어) | Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 10-4:Impact tests(free components), static load tests(fixed components), endurance tests and overload tests-Test 10d:Electrical overload(connectors) | ||||||||
국제표준분류(ICS)코드 |
31.220.10 : 플러그-소켓 장치. 연결기 |
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국제표준 부합화 |
IEC 60512-10-4:2003(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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고시기관(고시번호) | (제2014-0033 호) | ||||||||
고시사유 | |||||||||
KS심사기준 |
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페이지수 | 5 |
표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
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KS C IEC 60512-10-4 | 전자기기용 커넥터-시험 및 측정-제10-4부:충격 시험(유동 부품), 정적 부하시험(고정 부품), 내구성 시험, 과부하 시험-시험 10d:전기적 과부하(커넥터) | 2014-01-31 | 폐지(폐지) | ||
KS C IEC 60512-10-4 | 전자기기용 커넥터-시험 및 측정-제10-4부:충격 시험(유동 부품), 정적 부하시험(고정 부품), 내구성 시험, 과부하 시험-시험 10d:전기적 과부하(커넥터) | 2008-11-28 | 개정(구판) | ||
KS C IEC 60512-10-4(2007 확인) | 전자기기용 전기기계 부품-기본 시험절차 및 측정방법-제10-4부 : 충격시험(유동 부품), 정적부하시험(고정 부품),내구성 시험, 과부하 시험-시험10d: 전기적 과부하(커넥터) | 2007-11-07 | 확인(구판) | ||
KS C IEC 60512-10-4 | 전자 기기용 전기 기계 부품-기본 시험 절차 및 측정 방법-제10-4부:충격 시험(유동 부품), 정적 부하 시험(고정 부품), 내구성 시험, 과부하시험-시험 10d:전기적 과부하(커넥터) | 2002-12-30 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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