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반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제23부：고온 동작 수명
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 시험은 시간이 지남에 따라 바이어스 조건과 온도가 고체 상태 소자에 미치는 영향을 알아보기 위해 사용된다. 이 시험은 소자를 가속시키는 동작 조건으로 모의 시험하며, 주로 소자의 품질 및 신뢰성 모 니터링에 사용된다. 번인(burn-in)으로 불리는, 짧은 지속 기간의 고온 바이어스 형태는 불량 과 관련 된 초기 고장률을 선별하는데 사용될 수 있다. 번인에 대한 세부적인 사용과 적용은 이 규격의 적 용 범 위 밖의 일이다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 23：High temperature operating life | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 60749-23:2004(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | (제2006-0120 호) | ||||||||
| 고시사유 | |||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 4 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 60749-23  |
반도체소자 — 기계 및 기후 시험방법 — 제23부: 고온 동작 수명 | 2021-12-29 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
| KS C IEC 60749-23(2021 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제23부：고온 동작 수명 | 2021-09-28 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 60749-23(2016 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제23부：고온 동작 수명 | 2016-12-02 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 60749-23(2011 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제23부：고온 동작 수명 | 2011-12-13 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60749-23 |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제23부：고온 동작 수명 | 2006-03-24 | 제정(구판) | ||
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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