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Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Scanning electron microscope method
| 분야 | ISO/TC 107 : Metallic and other inorganic coatings |
|---|---|
| 적용범위 | This document specifies a destructive method for the measurement of the local thickness of metallic and other inorganic coatings by examination of cross-sections with a scanning electron microscope (SEM). The method is applicable for thicknesses up to several millimetres, but for such thick coatings it is usually more practical to use a light microscope (see ISO 1463). The lower thickness limit depends on the achieved measurement uncertainty (see Clause 10). NOTE The method can also be used for organic layers when they are neither damaged by the preparation of the cross-section nor by the electron beam during imaging. |
| 국제분류(ICS)코드 | 25.220.40 : 금속 도장 |
| 페이지수 | 12 |
| Edition | 2 |
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | ISO 9220:2022 | Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Scanning electron microscope method | 2022-02-11 | 표준 |
| 2 | ISO 9220:1988 | Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Scanning electron microscope method | 1988-09-29 | 구판 |
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